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JEM-1400Plus 透射电子显微镜
驱动样品台 样品移动范围:X/Y,2mm;Z,1mm;zei大倾斜角,±70度 扩展性好,可以安装STEM和EDS等附件,对于样品的综合分析能力非常强 新开发的JEM-1400Plus透射电子显微镜
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日本电子JEM-1400Flash 透射电子显微镜
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JEM-2100Plus 透射电子显微镜
透射电子显微镜JEM-2100Plus电子显微镜,不仅拥有信誉卓著的JEM-2100 的电子光学系统,还增加了zei新的控制系统,大幅提高了可操作性。 多功能电子显微镜JEM-2100Plus性能优越
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JSM-2200FS能量过滤场发射透射电镜
放大倍率: 50X-1,500,000X加速电压: 80,100,120,160,200分辨率: 0.19nm仪器种类: 场发射JEM-2200FS透射电子显微镜,标配场发射电子枪和镜筒内置式能量
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JEM-2100 透射电子显微镜
物镜种类极高分辨率*1(UHR)型高分辨率*1(HR)型样品高倾斜*1(HT)型冷冻传输*1(CR)型高衬度*1(HC)型分辨率 点分辨率
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JEM-2500SE 透射电子显微镜
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JEM-2200FS 透射电子显微镜
kV 放大倍数:x50 to 1,500,000 内置式能量过滤器 高衬度成像 三维重构 从基础到应用研究,采用zei新设计的磁转角修正系统,不但有利于获得高质量的透射图像和衍射像;而且
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JEM-2800 高通量透射电子显微镜
目的,利用感兴趣的观察模式快速获得从大范围的样品结构到亚纳米的晶格像。自动功能和用户导航支持高效率的操作环境JEM-2800具有电镜观测所需要操作的各种自动功能(自动衬度/亮度调整、样品高度(Z)调整
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Tecnai G2 Spirit 120kV透射电子显微镜
、个性化和安全环境下可轻易获得大量的高质量分析成果。 TecnaiFEI Tecnai™ 透射电子显微镜 (TEM) 旨在为生命科学、材料科学、纳米技术以及半导体和数据存储行业提供真正的通用
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JEM-3100F 场发射透射电子显微镜
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